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诚博电子:关于超高频RFID设备CE认证的射频RFID测试介绍

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作者:本站收录 来源:eefocus 2021-06-25 08:36:00

摘要:下面我们一起来了解下其中一款UHF频段RFID的RF测试要点。

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之前,诚博电子:摩尔实验室(MORLAB)完成了数款RFID产品的测试及认证,下面我们一起来了解下其中一款UHF频段RFID的RF测试要点。

目前,欧洲所使用的UHF RFID工作频段在865MHz~868MHz,功率不超过2W,依据R&TTE指令,CE认证中的射频测试需要参考协调标准EN302 208-2进行测试。通常,一个完整的RFID系统具备RFID读写器(Interrogators)与RFID电子标签(Tags)两部分,而这二者的测试也有所区别。

下面针对一款扫描机的测试进行介绍,该产品调制方式为ASK,功率为30±3dBm,有效工作频点为:865.7MHz,866.3MHz,866.9MHz,867.5MHz。



测试步骤如下:

1、将EUT按照辐射测试布置于暗室,将EUT设置在功率最大的频道;

2、准备数张(通常3张)的典型标签放置在EUT的感应区内;

3、将数字存储示波器的感应探头靠近RFID发射机的天线,以便读取波形;

4、重复多次测量并,记录相应的测试波形;

5、取出最大的发射时间和发射间隙并判断是否符合上述限制要求。

有些应用的产品(如传输装置系统)还有一些特殊要求需要制造商宣告:

a.RFID读写器20s内不读卡,发射机将停止发射;

b.需要有一个触发才能进行再次发射;

c.重新触发后的发射需遵守100ms的发射间隙再发射原来同信道的频率。

七、接收机杂散

定义为接收机的杂散发射,包括谐波辐射,寄生辐射以及互调与频率变换,不包括带外辐射。该测试的要求与发射杂散要求一致,测试方法也相同。

其限制值参考如下:

2 nW e.r.p. below 1 000 MHz;

20 nW e.r.p. above 1 000 MHz。

在标准中针对标签(Tags)类产品还需要测试标签的辐射功率和杂散,以上就是对UHF超高频RFID产品的RF射频测试介绍。

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